MRL Consulting GmbH

Wir suchen eine erfahrene Führungspersönlichkeit mit technischem Weitblick für die Leitung eines Forschungs- und Entwicklungsbereichs im Segment der Mikroskopie/ Optischen Inspektion-Entwicklung (mit einem Schwerpunkt für die Halbleiterindustrie). Im Zentrum steht die Führung eines Abteilungsübergreifenden zum Teil internationalen wie fachlich sehr anspruchsvollen Entwicklungsteams aus Physikern, Mechanikern, Mechatronikern, Materialwissenschaftlern sowie Elektrikern.

Ihre Aufgaben:

• Gestaltung und Umsetzung der langfristigen R&D-Roadmap in enger Abstimmung mit der Unternehmensstrategie Leitung und Förderung eines hochqualifizierten Teams aus Physiker:innen, Elektro- und Maschinenbauingenieur:innen sowie Materialwissenschaftler:innen. Förderung interdisziplinärer Zusammenarbeit mit Produktentwicklung, Fertigung und weiteren internen wie externen Schnittstellen Gesamtverantwortung für die Entwicklung modernster Mikroskopie-Systeme, Sicherstellung von Termin-, Kosten- und Leistungszielen.
  Initiierung sowie Umsetzung neuer Technologien und Produkte zur Stärkung der zukünftigen Geschäftsstrategie Förderung kreativer Lösungen und Schutz von Innovationen durch Patente und wissenschaftliche Veröffentlichungen Kontinuierlicher Ausbau und Optimierung der technischen Entwicklungsumgebung Sicherstellung von Serienreife und Skalierbarkeit im Designprozess Enge Kooperation mit externen Partnern, Forschungseinrichtungen und Zulieferern Berichtswesen an die Geschäftsleitung zu Fortschritten, Risiken und technologischem Reifegrad Anforderungen Abgeschlossenes Hochschulstudium (Master oder Promotion) in Physik, Elektrotechnik, Materialwissenschaften oder einem vergleichbaren Fachgebiet Einschlägige Erfahrung in der Entwicklung von Mikroskopie-Systemen oder optischer Metrologie bzw. innerhalb der eBeam-Technologie Nachweisbare Führungserfahrung in der Leitung von Forschungs- und
  Entwicklungsabteilungen und komplexen Technologieprojekten Idealerweise Erfahrung in der Halbleiterindustrie mit Schwerpunkt auf Metrologie, Inspektion oder Prozesskontrolle